Xây dựng giản đồ chiếu phát hiện khuyết tật sử dụng phim FUJI#100 cho vật liệu nhôm trên máy phát tia X Rigaku – 200EGM
Báo cáo này nghiên cứu xây dựng giản đồ chiếu cho máy phát tia X RIGAKU-200EGM để xác định khoảng cách, thời gian chiếu và cao áp đối với vật liệu nhôm có bề dày 10mm-100mm nhằm xác định các khuyết tật, sai hỏng có trong vật liệu hoặc các cấu kiện, chi tiết lắp ráp. Đây là bài toán quan trọng thuộc lĩnh vực ứng dụng kĩ thuật hạt nhân trong công nghiệp và là phương pháp chủ lực trong lĩnh vực kiểm tra không phá hủy – NDT (None Destructive Testing) tại Trung tâm Đào tạo (TTĐT), Viện Nghiên cứu Hạt nhân.
Xin lỗi bạn không thể down load tài liệu này. Bạn có thể xem tài liệu trực tuyến trên website hoặc liên hệ thư viện trường để được hướng dẫn. Cảm ơn bạn đã sử dụng dịch vụ của chúng tôi.
Bạn vui lòng tham khảo thỏa thuận sử dụng của thư viện số.